VSC8000FS内置的显微分光光度计采用独立的成像和光纤信号传输技术，能够在400-1000纳米内实现红外吸收、红外反射、荧光光谱和透射光谱的检验。其中最常用的为红外吸收和红外反射光谱分析。

在完成光谱分析后，需要对形成的光谱曲线进行分析，在光谱分析时，需要注意以下几个方面：

1. 光谱相对强度（Y轴方向高度）是取样点墨迹对入射光发射强度的反映，不反映墨水成分区别：

如果同一笔画两个不同的取样点墨迹浓淡不同，其反映在坐标系中光谱相对强度（Y轴方向高度）则不同，但由于取样点的成份一致，因此两个取样点生成的光谱曲线平行度较高。

以下光谱图为两种不同墨迹，曲线1、2、3为同一笔画上墨迹浓淡不同的取样点，可以看出曲线1、2、3具有较好的平行度，也从侧面说明由于是同一种墨水，因此其成分对于不同波段的入射光的发射特性基本一致。

2.光谱曲线拐点反映墨迹成分差异

图谱1、2、3和图谱4、5、6具有明显的走势拐点差异，反映由于两种墨水成分的差异，导致其对不同波长入射光的发射强度存在较大差异。

相关产品推荐

【睿鹰】PVMS 显微分光光度计

【睿鹰】VSC8000FS 超级文检工作站

【睿鹰】VSC80FS 文件检验工作站

【Linetech】文检辅助系统