产品介绍

UV-F疑难现场足迹扫描系统是北京和众视野科技有限公司开发的一套专用于现场平整表面的足迹图像采集系统。UV-F总结现实办案现场中集中出现的多种疑难足迹情况——诸如被背景图案淹没的足迹，高反射表面的足迹，以及很多看得见却拍不到（拍不好）的足迹等，创新设计了“倾斜成像加激光矫正（IILC）”的独特扫描技术，使得大部分常见疑难足迹都能得以清晰呈现。